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产品详情
Nanolink S900/SZ900纳米粒度及Zeta电位仪
Nanolink S900/SZ900纳米粒度及Zeta电位仪的图片
参考报价:
200000元
品牌:
真理光学
关注度:
6305
样本:
暂无
型号:
Nanolink S900/SZ900
产地:
珠海
信息完整度:
典型用户:
暂无
测量范围:
0.3nm-15μm*
测量时间:
0.0001~10秒
分散方式:
液体分散
仪器原理:
动态光散射
重现性:
优于±1% (平均粒径,NIST 可溯源乳胶标样)
分辨率:
优于±1% (平均粒径,NIST 可溯源乳胶标样)
误差率:
优于±1% (平均粒径,NIST 可溯源乳胶标样)
认证信息
白金会员 第 7
名 称:珠海真理光学仪器有限公司
认 证:工商信息已核实
访问量:403785
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产品简介

Nanolink S900是基于多年的科研成果开发的新一代高速纳米粒度分析系统,被广泛应用于有机及无机颗粒、乳液、高分子聚合物、表面活性剂、胶束、病毒抗体、蛋白质等样品的颗粒表征。SZ900除了具备颗粒表征功能外,还能测量胶体的Zeta电位。

 

Nanolink S900/SZ900纳米粒度及Zeta电位仪技术特点包括:

 经典90°动态光散射技术

 粒径范围:0.3nm-15μm*

 新一代高速数字相关器,zui小采样时间25ns,动态范围大于10¹¹

◆ 集成光纤技术的军品级PMT检测单元(APD可选)

◆ 532nm 50mW大功率固体激光器,能量输出自动调节

◆ 温控范围0℃-90℃,精度±0.1℃

◆ 冷凝控制-- 干燥气体吹扫技术


项目

性能指标或描述(右上角标“*”者仅适用于SZ900)

测量原理

动态光散射法、电泳法*

粒径范围

0.3nm-15μm*

准确度

优于±1% (平均粒径,NIST 可溯源乳胶标样)

重复性

优于±1% (平均粒径,NIST 可溯源乳胶标样)

*小样品浓度

0.1mg/ml*

*小样品量

3μl*

测量角度

经典90度

温度控制范围

0℃-90℃ (120℃选配)

温度控制精度

±0.1℃

冷凝控制

干燥气体吹扫

激光器

532nm固体激光器,**功率50mW, 激光输出自动可调

激光安全等级

1类

相关器

zui小采样时间25ns, 动态范围>1011

检测器

高灵敏度APD 或 PMT

Zeta电位测量范围*

-600mV+600mV

样品**电导率*

200mS/cm

适用粒径范围*

3.5nm 100µm

光学系统重量

25kg

光学系统尺寸

578mm x 397mm x 248mm(LxWxH)

注:取决于样品及样品池选件


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